在高端精密制造领域，对零部件精度的极致追求始终是行业发展的核心驱动力。近日，马路科技凭借30年深耕光学计量的深厚积淀，正式推出全新一代光学三坐标测量系统——Bruker µCMM NEO，以突破性技术重新定义尺寸计量标准，为微米级精密制造提供更高效、更精准的解决方案。
传统尺寸测量系统往往局限于单一维度数据采集，而µCMM NEO以“表面形貌”为核心测量理念，通过完整三维数据构建，实现对零部件功能特征的深度解析。无论是微小几何结构、自由曲面还是复杂微孔，该系统均能以非接触式测量方式，在单次流程中同步完成尺寸、形位公差、形状及粗糙度评估，彻底打破传统测量需多次装夹、重复定位的局限。
五轴高精度运动系统是µCMM NEO的核心技术亮点。通过优化机械结构与动态补偿算法，该系统在整个测量体积范围内保持微米级精度稳定性，确保从中心区域到边缘位置的测量结果高度一致。这种设计不仅简化了操作流程，更通过一体化光学平台替代多种传统测量设备，显著降低企业设备投入与维护成本。
德国精密制造企业Fritz Stepper GmbH首席执行官Michael Stepper表示：“自2018年成为首代μCMM用户以来，该系统始终是我们质量保障体系的基石。其卓越的精度与生产力为高端齿轮制造树立了标杆。如今升级至µCMM NEO，我们期待在复杂曲面测量与自动化集成领域开启新的合作篇章。”这家拥有87年历史的家族企业，以再次率先采用新一代系统印证了其对技术创新的持续追求。
智能光学3D计量平台MetMaX的深度集成，进一步释放了µCMM NEO的潜力。用户导入CAD模型后，系统可自动识别GD&T或PMI特征，生成最优测量路径。这种“所见即所得”的操作模式，使不同经验水平的操作人员均能获得一致、可追溯的测量结果，特别适用于多品种、小批量的精密制造场景。
从航空航天领域的涡轮叶片检测，到医疗植入物的微观结构分析，µCMM NEO正以每分钟获取更多功能特征数据的能力，推动制造业向“精度即质量”的方向迈进。其非接触式测量特性，更使其成为超硬材料、脆性材料等传统触测方式难以应对场景的理想选择。
