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英特尔18A-P工艺突破:低电压下性能飙升,多技术融合引领芯片革新

   时间:2026-08-27 00:28:00 来源:互联网编辑:快讯 IP:北京 发表评论无障碍通道
 

在近期举办的全球计算架构与芯片设计领域顶级盛会上,英特尔公布了其最新制程技术——Intel 18A-P的详细信息。这项技术通过多项创新手段,在性能与能效方面实现了显著突破,为未来处理器设计奠定了新基础。

基于量产芯片的实测数据显示,18A-P在0.5伏工作电压下可实现30%的频率提升。该制程将率先应用于代号为Diamond Rapids的至强处理器和Nova Lake酷睿处理器,这两款产品计划于2027年正式推出。英特尔工程师通过对比测试发现,采用RibbonFET全环绕栅极晶体管和背面供电技术的CPU核心,在相同电压下比传统FinFET技术核心性能提升明显。

技术团队特别强调,18A-P并非对前代18A制程的简单改进,而是针对不同电压区间进行了系统性优化。在低电压环境下,该制程通过GAA晶体管结构提升能效表现;当电压升高时,背面供电技术则有效减少供电损耗,释放更高频率潜力。这种双管齐下的设计策略,使处理器既能满足移动设备的续航需求,也能支撑数据中心的高性能计算。

具体技术实现方面,RibbonFET晶体管采用四面包围沟道的设计,使阈值电压控制更加精准。背面供电技术通过将供电路径转移至晶圆背面,缓解了正面金属互连层的供电拥塞问题,将IR压降降低约20%。测试数据显示,这项改进在高电压场景下可减少5%-7.5%的供电损耗,而GAA晶体管在低电压时能效提升更为显著。

针对不同应用场景,英特尔为18A-P开发了三种器件选项:W1和W1.5主打低功耗设计,W3P则面向高性能需求。通过Power Boost技术,W3P可在不增加电气负载的情况下实现约10%的运行速度提升。与前代相比,新制程将NMOS器件外部电阻降低20%,PMOS器件降低12%,在相同电容条件下可提供更高电流和频率。

散热解决方案的升级同样值得关注。通过材料改进和EDA驱动的热设计优化,键合堆栈的热导率提升50%,整体热阻改善20%-40%。在互连技术领域,英特尔在金属层堆栈顶部新增两层粗金属层,使1.1伏电压下的频率提升约3%,0.65伏时提升约2%,同时降低约2%的功耗。

正在研发的钌互连技术展现出更大潜力。采用减法式工艺结合空气隙隔离后,互连电容较传统铜材料降低约35%。三维逻辑堆叠技术则计划将不同功能层垂直堆叠,通过缩短信号传输路径提升运算效率。这些创新将为未来处理器架构提供更多可能性。

作为首批采用18A-P制程的产品,Diamond Rapids至强处理器将配备最多256个核心,核心数量较前代翻倍。为解决内存带宽瓶颈,英特尔将I/O区域移至封装中央,确保各核心获得均衡的内存访问能力。这种设计特别针对人工智能规模计算负载进行优化,通过架构更新为大量核心提供稳定的数据供给。

英特尔技术团队透露,GAA晶体管与背面供电技术的组合将成为未来多代产品的基础架构。从代号"Clearwater Forest"的Xeon 6+处理器开始积累的能效优势,现已成功转化到Diamond Rapids的P核心设计中。这种技术传承与创新结合的策略,将持续推动数据中心和客户端计算平台的性能突破。

 
 
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